1. 光路平台倒置, 光学元件都是头朝下倒置着固定在上面的。而一般我们搭光路都是在光学平台上方正置,但这个等于把光学平台倒过来。
2. 785 nm 激光器坏了两次。
3. 内部胶水老化,拆开后竟然发现光栅掉脱落,反射镜脱离。这与光路平台倒置的设计也分不开。
4. 内部做工粗糙,---粗制滥造。例如: 用银色胶带挡杂光。(漏光也就算了,为啥不用黑的)
5. 顶部是个弧形的热沉,为拆下倒置维修造成很大障碍,弧形的热沉底,使修理很不稳定,需要借助外界固定。
当你在重复测试一个样品时发现有一些尖锐谱线在相同的位置重复出现时,可以排除它们是---的可能(因---的位置足随机的)。这些重复的尖锐谱线通常来自日光灯的发射或crt显示器的磷光发射,尤其当用长工作距离的物镜时问题更---。它们也可能来自气体激光器发射的等离子线,布鲁克共---拉曼原理,需仔细鉴别。
拉曼光谱中的荧光干扰来自于gong的发射,可以将室内的日光灯关闭或在较暗的白炽灯下工作。仪器室内应尽可能暗。简单的做法是将仪器室装饰成暗房样式,以避免任何来自所谓白光发射的---反常规的发射谱线。
磷光线的干扰主要是crt显示器上所镀磷光物质引起。如发现此种情况,可将crt显示器关掉或将荧光屏的亮度调暗。需要牢记的是:这些发射谱线的波数值永远是在同一个坐标值上,布鲁克共---拉曼,当转换不同波长激光激发时它们在拉曼谱上的位置是随着移动和改变的。
当上述方法都不能解决问题而你正在使用514nm激光进行激发时,检查等离子线滤光片是否已经插上。在其它激光配置系统中,布鲁克共---拉曼结构,要么不需要检查,要么激光器上已经包含了滤光片。
当你进行样品测试时,激光照射在样品表面的能量是非常大的,尤其在采用nir或uv激光激发时。尤其是一些样品在光照下对热或光是十分敏感的,这会导致测量信号包含样品烧毁后的特征,布鲁克共---拉曼公司,而不是样品本征的信号(例如,非晶碳膜在1500cm-1波数附近的本征峰在强光激发时会显示出石墨化的碳峰)。通常遇到这样的问题时,可在样品测试前后通过显微镜白光像观察样品表面是否发生明显变化,因此需选择正确的激光功率来进行测试。
为避免样品表面烧毁,在开始测试时应选用较低的激发功率,尤其用nir或uv激光激发时。在---样品不被烧毁的前提下可提高激发功率以得到很强的信号。当激光功率衰减到1%仍无法避免样品烧毁时,可考虑转换低倍物镜以降低照射在样品表面的功率密度。另外还可采用欠焦照射模式或线---照射模式。如果问题是由于高功率二极管激光器引起的,可考虑转换成低功率可见激发系统。
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